半导体器件IV+CV测试仪

价格:1000元 联系人:陶女士 半导体器件IV+CV测试仪是对待测器件施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应,通传统的分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字万用表、电压源、电流源等。 实施半导体分立器件特性参数分析的 工具之一是“五合一”数字源表(SMU)，集多种功能于一体。 精准、稳定、高效的电性能测试方案可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具，大大提高测试效率。此外,基于核心的高精度数字源表，普赛斯还提供适当的电缆辅件和测试夹具，实现安全、可靠的测试。 普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，有关半导体器件IV+CV测试仪的更多详情请咨询普赛斯仪表！ 数字源表优点： 同时精确提供和测量电压和/或电流； 同步测量，减少测试时间 提供和测量非常广的电流和电压； 电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A 支持运行用户脚本程序，无需电脑控制，提高生产测试速度； 序列测试，简化操作，降低成本 采用用户熟悉的图形界面，不管用户经验是否丰富，使用起来都非常简便； 触屏操作 与传统电源比： 电源过零需要改变线连接方式； 增加需反复开关机械开关，降低了设备可靠性 电压电流限制精度有限； 电压1%，电流10mA 与电源结合万用表组合比： 万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步； 复杂连线、编程开发 电源限压限流性能差 限压限流精度低，瞬态特性也无法保证