半导体电性能iv+cv测试仪

价格:1000元 联系人:陶女士 半导体电性能iv+cv测试仪认准普赛斯仪表，普赛斯数字源表集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作、微弱电流10pA输出测量、3500V高压下nA级测量、1000A脉冲大电流输出，全系列产品丰富，新推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案； 产品特点 5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作 内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV 源及测量的准确度为0.03% 四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA 丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描 支持USB存储，一键导出测试报告 支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网 S系列源表应用 分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件； 能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器； 传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等； 有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等； 纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等； 激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统； 功率器件：静态测试系统； 电流传感器：动静态参数测试系统；